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多谱光学发布100%器件国产化光电探测器模块

hth官方 来源:多谱光学2024-08-27 我要评论(0 )   

多谱光学发布100%器件国产化光电探测器模块一光电探测器概述 光电探测器作为光电子领域的核心器件,肩负着将光信号转换为电信号的重要使命。它如同光学实验中的翻译官,...

多谱光学发布100%器件国产化光电探测器模块


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光电探测器概述


       光电探测器作为光电子领域的核心器件,肩负着将光信号转换为电信号的重要使命。它如同光学实验中的"翻译官",将光的世界转化为电的舞台,让复杂的光学现象变得可测量、可分析。从简单的发光强度到复杂的光脉冲特性,光电探测器都能准确捕捉并解读,为科学研究和技术应用提供宝贵的实验数据。


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在光学实验的舞台上,光电探测器几乎无处不在。无论是激光测距、光纤通信,还是光谱分析、生物医疗,都离不开光电探测器的身影。它就像光学实验的"标配",为实验提供了精准的光信号测量手段,让科研人员能够深入探索光的世界,揭开光的奥秘。


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光电探测器,虽然历史悠久,但其技术发展却始终保持着旺盛的生命力。其基本原理看似简单,但要将性能做到极致,将噪声降至最低,将放大做到更加线性,却需要无数次的试验和探索,凝聚着无数科研人员的智慧和汗水。

光电探测器的性能提升,往往取决于设计细节的精益求精。从光电材料的选取,到器件结构的设计,再到制造工艺的优化,每一个细节都影响着光电探测器的最终性能。例如,光电材料的选择决定了探测器的响应范围和灵敏度;器件结构的设计影响着光信号的收集效率和噪声水平;制造工艺的优化则影响着器件的一致性和稳定性。


国产光电探测器发展现状


长期以来,国外品牌的光电探测器在我国市场占据主导地位,国产产品虽然偶有出现,但始终未能形成品牌化、规模化,也无法替代进口产品。究其原因,主要可以归结为以下几点:


1:指标参数不清,性能参差不齐

  • 部分国产光电探测器产品特性参数描述不够清晰,缺乏定量数据,难以进行性能评估和比较。

  • 产品性能稳定性不足,不同批次产品之间性能差异较大,难以满足用户对产品一致性的要求。

2:功能与接口混乱,兼容性差

  • 国产光电探测器产品功能、接口、尺寸、外形等设计缺乏统一标准,导致产品之间兼容性差,难以进行系统集成和扩展。

  • 用户在跨系统移植和扩展时,需要花费大量时间和精力进行适配,增加了使用成本和难度。

3产品不成体系,无法满足多样化需求

  • 部分国产光电探测器产品种类单一,难以满足不同应用场景和系统功能的需求。

  • 面对复杂的光学平台和系统,用户难以找到合适的国产光电探测器产品,形成产品选择的盲区。

4:赛道狭窄,发展动力不足

  • 光电探测器市场规模相对较小,发展前景不如一些热门行业,导致部分企业缺乏投入研发的动力。

  • 研发投入不足,限制了国产光电探测器产品性能的提升和功能的完善。


       然而,光电探测器的全国产化意味着自主研发和技术创新,这有助于提升国内企业在高端光电探测器技术领域的核心竞争力。并且可减少对外部市场的依赖,特别是在国际政治经济环境变化多端的情况下,保障国内产业链的稳定和安全。因此,光电探测器的全国产化对于国家的科技进步、产业升级、经济安全以及国际竞争力提升都具有重要的战略意义。


全国产光电探测器研发


针对国产光电探测器市场的关键需求,凭借我们在光电测量领域积累的丰富经验,经过长时间精心研究和精细打造,我们从电路设计、功能优化、增益/带宽的精确标定、机械结构设计等多方面进行全面攻坚,最终推出了性能统一、接口统一、工况统一、完全由国产器件构成的光电探测器系列产品。

例如,我们所研发的PDA-S-C1放大型可调增益硅探测器,由硅(Si)光电二极管+可调增益放大器集成封装而成,百分百器件全国产。光灵敏范围从可见光到近红外,典型光谱范围覆盖350nm~1100nm。该光电探测器内置低噪声跨阻放大器(TIA),采用程控式8档可调增益,定量化光电转换。动态范围宽,适用于各种光电开发场景,应用广泛。

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光电探测器产品参数


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硅探测器:PDA-S-C1-产品参数


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铟镓砷探测器:PDA-IGS-C1-产品参数


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八档程控式定量可调增益参数


产品尺寸


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响应曲线


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硅探测器:PDA-S-C1-响应曲线


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铟镓砷探测器:PDA-IGS-C1-响应曲线


引脚定义

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性能测试结果


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001档位增益测试结果


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011档位增益测试结果


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噪声本底测试结果


结语

      

      “做光谱,多有趣!”,多谱光学坚定践行构建光谱开发者联盟的初心,用技术积累和实践经验创造更多有趣的光谱开发工具,让我们共同期待多谱光学在光谱开发工具领域的更多精彩表现。

     以上产品目前已正式面向市场销售。如果您对光电探测技术开发感兴趣,欢迎与我们联系,获取相关技术资料。


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