阅读| 订阅
阅读| 订阅
半导体激光器

致茂推出整合性的Turn-Key激光二极管测试解决方案

星之球激光来源:致茂电子2013-08-28我要评论(0)

作为为精密电子量测仪器、自动化测试系统、制造资讯系统与全方位Turnkey测试及自动化解决方案供应商的致茂电子,一直致力于对先进核心技术的追求,随着市场对激光二极管...

作为为精密电子量测仪器、自动化测试系统、制造资讯系统与全方位Turnkey测试及自动化解决方案供应商的致茂电子,一直致力于对先进核心技术的追求,随着市场对激光二极管需求的不断加剧,致茂于去年推出激光二极管测试解决方案,一推出就受到市场的关注,近日,随着2013年中国国际光博会CIOE的即将召开,致茂推出了整合性的Turn-Key激光二极管测试解决方案。

致茂继2012中国光博会推出震撼市场的激光二极管测试解决方案并受到得到世界上Tier1 的厂商认可,将再次于2013年中国国际光博会CIOE上为需求厂商提供更多具价格竞争力优势的激光二极管测试产品,并展出整合性的Turn-Key测试解决方案。

激光二极管在通讯、医疗、军事等方面极具应用性,与人类社会生活密不可分。有鉴于近年来因半导体雷射于云端, 感测等产业上的应用逐年提升,致茂运用自有精密量测仪器设备搭配自动化测试的经验与技术,提供雷射制造业界完整的Turn-Key测试解决方案。

致茂推出整合性的Turn-Key激光二极管测试解决方案

在晶圆(Wafer)检测部分,致茂结合Prober-Station与TEC致冷芯片温控器,可快速制造-40℃到150℃的环境,并确保在无冷凝的环境下测试雷射光电特性随温度变化的情形。于雷射芯片(Chip)检测段,致茂将使用HOC共用载具(Hand-Over Carrier)的方式可于人员不直接接触芯片下进行自动化光电特性量测L-I-V曲线与烧机测试的交互测试。而特性检测Characterization上致茂提供的是Turn-Key解决方案, 整合性的测试可大幅降低人工需求进而达到客户测试需求;今年致茂也针对TOCAN封装段的激光器提出新的烧机检测系统(Burn-In)与自动化光学检测(AOI),可于最终出货前进一步检测出有瑕疵的激光器。

致茂每年投入大量研发资源确保其领先关键技术及高度整合能力于光学、机械、电子、温控及软体,以维持公司的竞争优势及成长,这也使得其激光二极管测试解决方案能够得到市场的青睐与认可,相信整合性的Turn-Key激光二极管测试解决方案在2013年中国国际光博会CIOE上的展出,将会再度成为媒体和参展人员的关注焦点之一。

转载请注明出处。

免责声明

① 凡本网未注明其他出处的作品,版权均属于hth官方 ,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。获本网授权使用作品的,应在授权范围内使 用,并注明"来源:hth官方 ”。违反上述声明者,本网将追究其相关责任。
② 凡本网注明其他来源的作品及图片,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本媒赞同其观点和对其真实性负责,版权归原作者所有,如有侵权请联系我们删除。
③ 任何单位或个人认为本网内容可能涉嫌侵犯其合法权益,请及时向本网提出书面权利通知,并提供身份证明、权属证明、具体链接(URL)及详细侵权情况证明。本网在收到上述法律文件后,将会依法尽快移除相关涉嫌侵权的内容。

网友点评
0 相关评论
精彩导读
Baidu
map